隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，SMT技術(shù)越來(lái)越普及，芯片的尺寸越來(lái)越小，芯片的管腳越來(lái)越多，尤其是近幾年出現(xiàn)的BGA芯片。由于BGA芯片的引腳不是按照常規(guī)設(shè)計(jì)分布在四周，而是分布在芯片底部，因此傳統(tǒng)的人工視覺(jué)檢測(cè)無(wú)法判斷焊點(diǎn)的質(zhì)量，必須通過(guò)ICT功能測(cè)試。但一般來(lái)說(shuō)，如果出現(xiàn)批次誤差，是無(wú)法及時(shí)發(fā)現(xiàn)和調(diào)整的，人工視覺(jué)檢測(cè)是最不準(zhǔn)確和重復(fù)性[敏感詞]的技術(shù)。由此，X射線檢測(cè)技術(shù)越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于SMT回流焊的質(zhì)量檢測(cè)，不僅能對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行定性和定量分析，還能及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障并做出調(diào)整。

　　一、X-ray的工作原理：

　　當(dāng)板材沿導(dǎo)軌進(jìn)入機(jī)器時(shí)，有一個(gè)X射線發(fā)射管位于板材上方，X-ray發(fā)射管發(fā)出的X射線穿過(guò)板材，被位于下方的探測(cè)器(通常是攝像頭)接收。由于焊點(diǎn)中含有大量能吸收X射線的鉛，與穿過(guò)玻璃纖維銅、硅等其他材料的X射線相比，照射在焊點(diǎn)上的X射線被大量吸收，黑點(diǎn)產(chǎn)生良好的圖像，使得對(duì)焊點(diǎn)的分析相當(dāng)簡(jiǎn)單直觀，所以圖像簡(jiǎn)單。

　　第二，X-ray技術(shù)應(yīng)用：

　　X-ray檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)從以前的2D檢測(cè)方法轉(zhuǎn)變?yōu)楝F(xiàn)在的3D檢測(cè)方法。前者是投影X射線檢查方法，它可以為單個(gè)面板上的時(shí)間焊點(diǎn)生成清晰的圖像。而現(xiàn)在廣泛使用的雙面回流焊板效果很差，會(huì)使雙面焊點(diǎn)圖像重疊，極難分辨。而后一種3D檢查方法采用分層技術(shù)，即光束聚焦在任意一層上，相應(yīng)的圖像投射到高速旋轉(zhuǎn)的接收面上。因?yàn)榻邮彰娓嬖V旋轉(zhuǎn)使交點(diǎn)處的圖像非常清晰，而其他層的圖像被消除，所以3D檢查可以獨(dú)立地對(duì)電路板兩側(cè)的焊點(diǎn)進(jìn)行成像。

　　3D  X-ray檢測(cè)技術(shù)不僅可以檢查雙面焊接板，還可以對(duì)BGA等隱形焊點(diǎn)進(jìn)行多層圖像切片檢查，即徹底檢查BGA焊球焊點(diǎn)的頂部、中部和底部。同時(shí)，通過(guò)使用這種方法，可以測(cè)量通孔的PTH焊點(diǎn)，檢查通孔中的焊料是否充足，從而大大提高焊點(diǎn)的連接質(zhì)量

　　第三，X-ray取代了ICT

　　隨著印制板密度越來(lái)越大，器件越來(lái)越小，印制板設(shè)計(jì)中留給ICT測(cè)試的空間越來(lái)越小，甚至被取消。此外，對(duì)于復(fù)雜的印制板，如果直接從SMT生產(chǎn)線送到功能測(cè)試崗位，不僅會(huì)導(dǎo)致合格率下降，還會(huì)增加電路板的故障診斷和維修成本，甚至?xí)?dǎo)致交貨延遲，從而在當(dāng)今激烈競(jìng)爭(zhēng)的市場(chǎng)中失去競(jìng)爭(zhēng)力。如果此時(shí)用X-ray代替ICT，可以保證功能測(cè)試的生產(chǎn)路線，減少故障診斷和維修的工作。此外，通過(guò)在SMT生產(chǎn)中使用X射線進(jìn)行抽查，可以減少甚至消除批次誤差。值得注意的是，ICT檢測(cè)不到的焊料太少或太多，X射線如冷焊或氣孔也能檢測(cè)到，這類缺陷很容易通過(guò)ICT功能測(cè)試而不被發(fā)現(xiàn)。從而影響產(chǎn)品壽命。當(dāng)然，X射線無(wú)法檢測(cè)設(shè)備的電氣缺陷，但這些可以在功能測(cè)試中檢測(cè)出來(lái)。簡(jiǎn)而言之，加入X-ray檢測(cè)，不僅不會(huì)漏掉制造過(guò)程中的任何缺陷，還能檢測(cè)出ICT檢測(cè)不到的一些缺陷。基于上述因素，3D  X光機(jī)可以評(píng)估每個(gè)焊點(diǎn)的大小、形狀和特性，并自動(dòng)檢測(cè)不可接受和關(guān)鍵的焊點(diǎn)，這些焊點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品過(guò)早失效。當(dāng)然，這些關(guān)鍵的焊點(diǎn)在其他測(cè)試中會(huì)被認(rèn)為是良好的焊點(diǎn)。